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功能材料測試儀器

阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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HCGL-1000高溫管式爐測試儀

更新時(shí)間：2023-08-09

型號：HCGL-1000

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高溫管式爐測試儀可以勻速、階梯（升\\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式，采用全電子控制技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)0.5°C以內(nèi)，溫控精度之高。加熱速度之快，同時(shí)它可以提供了材料的多的性測試環(huán)境。
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HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：2101

HCTZ-2S北京華測*四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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醫(yī)用耐壓測試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-21

型號：

瀏覽量：1856

醫(yī)用耐壓測試儀系列是符合GB9706.1規(guī)則的交流耐壓測試儀，主要用于檢測醫(yī)用電子設(shè)備材料的絕緣強(qiáng)度等技術(shù)指標(biāo)。該儀器外形美觀、操作方便，輸出電壓由數(shù)字面板表顯示，清晰、直觀、準(zhǔn)確。整機(jī)技術(shù),布局合理，具有、可靠性好、維修方便等優(yōu)點(diǎn)。
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HCTZ-2S北京華測試驗(yàn)儀器四探針測試儀

更新時(shí)間：2023-08-29

型號：HCTZ-2S

瀏覽量：1665

HCTZ-2S北京華測試驗(yàn)儀器四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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HCTD-800HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：HCTD-800

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HCTD高溫鐵電測試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測量，。本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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HC-200S水平垂直燃燒儀

更新時(shí)間：2023-08-21

型號：HC-200S

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水平垂直燃燒儀用于測試塑料類及非金屬材料類物質(zhì)燃燒的試驗(yàn)儀器。適用于塑料和非金屬材料試樣處于50W火焰條件下，水平或垂直方向燃燒的試驗(yàn)室測定方法。
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HCTD-800高溫鐵電測試儀/分析儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號：HCTD-800

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高溫鐵電測試儀/分析儀用于鐵電體的鐵電測量，本測試系統(tǒng)主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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HCTZ-2S華測四探針測試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號：HCTZ-2S

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HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
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