簡要描述:HCTZ-2S華測四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
產品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 北京華測 | 價格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
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自動化度 | 全自動 | 應用領域 | 環(huán)保,能源,電子 |
產品名稱:華測四探針測試儀
產品型號:HCTZ-2S
品牌:北京華測
一、產品介紹
HCTZ-2S華測四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
HCTZ-2S雙電測數(shù)字式四探針試驗儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途。
四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針試驗儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析。
1、使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸承,量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內運動,持久耐磨,測量精度高、重復性好。
A.探頭間距1.00㎜
B.探針機械游率:±0.3%
C.探針直徑0.5㎜
D.探針材料:碳化鎢,常溫不生銹
E探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。
手動測試架探頭上下由手動操作,可以用作斷面單晶棒和硅片測試,探針頭可上下移動距離:120mm,測試臺面200x200(mm)。
三、產品應用
HCTZ-2S四探針試驗儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購。
四、產品特點
2.本儀器的特點是主機配置三個數(shù)字表,在測量電阻率的同時,一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全程的電流變化,及時掌控測量電流,一塊顯示2、3探針間的測量電壓,另一塊是顯示當前1、4探針測量使用的電壓,可以適當調整測量電壓避免材料耐壓不夠而電壓擊穿被測材料。
3.主機還提供精度為0.05%的恒流源,使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關,在測量某些薄層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,好地保護薄膜。采用低通濾波電流檢測技術以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。
4.探針采用碳化鎢硬質合金,硬度高、常溫不生銹,探針游移率在0.1~0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配測量軟件,測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正,并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度,給測量帶來很大方便。軟件平臺
5.HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流。
6.儀器通過USB轉RS232連接線與電腦連接,軟件可對四探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù),特定數(shù)據(jù)存儲格式,顯示變化曲線,兼容性:適用于通用電腦
7.測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro,符合導體、半導體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性和安an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復。兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
具有試驗電壓設置功能;
可選擇試驗標準
可選擇是否自定義或自動試驗
截止條件:時間/電壓/電流;
語音提示:可選擇是否語音提示功能。
統(tǒng)計報告:可自定報表格式
可生出PDF、CSV、XLS文件格式
分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。大/小值、平均值等。
六、技術參數(shù)
測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105Ω, 分辨率:1×10-5~1×102Ω
電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm, 分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105Ω/□, 分辨率:5×10-5~1×102Ω/□
數(shù)字電壓表
量程:20.00mV~2000mV
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
數(shù)控恒流源
量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1A
誤差:±0.1%讀數(shù)±2字
四探針探頭
碳化鎢探針:Ф0.5mm,直流探針間距1.0mm,探針壓力:0~2kg可調
薄膜方阻探針:Ф0.7mm,直流或方形探針間距2.0mm,探針壓力:0~0.6kg可調
七、注意事項
1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書,規(guī)范操作
2、輕拿輕放,避免儀器震動,水平放置,垂直測量
3、儀器不使用時請切斷電源,連接線無需經常拔下,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象
4、探針筆測試結束,套好護套,避免人為斷針
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