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功能材料測試儀器

阻抗分析儀鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀高溫介電溫譜測試儀熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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高溫閃燒試驗(yàn)儀的原理和工作方式

Huace450P北京華測高低溫介電溫譜儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：Huace450P

瀏覽量：2021

北京華測高低溫介電溫譜儀，設(shè)備測試頻率可達(dá)120MHz，采用直接聯(lián)接阻抗分析儀以減少測試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測量儀表的干擾。
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華測儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測試儀

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：

瀏覽量：1964

華測儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測試儀它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量。
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TSC-3000熱激勵(lì)去極化電流測量系統(tǒng)測試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：

瀏覽量：1958

TSC-3000熱激勵(lì)去極化電流測量系統(tǒng)測試儀器是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。通過研究TSDC譜可以了解電介質(zhì)材料中偶極子和可動(dòng)離子的性質(zhì)、激活能（或陷阱深度）、以及弛豫時(shí)間（壽命）等。
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華測專業(yè)定制高性價(jià)比高低溫控探針臺(tái)冷熱臺(tái)

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：

瀏覽量：1811

華測專業(yè)定制高性價(jià)比高低溫控探針臺(tái)冷熱臺(tái)是一款溫度范圍-190℃-600℃的。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度大。
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華測HC系列多功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-08-08

型號(hào)：

瀏覽量：1856

華測HC系列多功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)通過阻抗分析儀、高阻計(jì)配合高低溫測試裝置，能夠準(zhǔn)確地測量高分子材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗以及在高低溫條件下的介電溫譜及介電頻譜等參數(shù)。
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D33壓電系數(shù)測試儀

更新時(shí)間：2024-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：3322

D33壓電系數(shù)測試儀不僅決定了壓電材料的，同時(shí)也直接影響著換能器的參數(shù)。由于同一批材料的壓電陶瓷參數(shù)具有很大的離散度，故測量壓電陶瓷的d33是很有必要的。影響d33測試準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性的因素有很多，主要考慮以下因素：壓力是否全部加于試樣，壓力的方向是否與試樣極化軸平行，測試電極是否平整和相互平行，受力和產(chǎn)生感應(yīng)電效應(yīng)的面積是否相等，壓力釋放瞬間是否有試樣抖動(dòng)等。
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HCJD-10/20KV系列北京華測HCJD壓電陶瓷高壓極化裝置

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCJD-10/20KV系列

瀏覽量：2067

高壓極化是指在外電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)部沿電場方向產(chǎn)生感應(yīng)偶極矩，在電介質(zhì)表面出現(xiàn)極化電荷，該現(xiàn)象就是電介質(zhì)的極化。高壓極化電源為電介質(zhì)極化提供外加電場，作為極化設(shè)備被廣泛應(yīng)用于各類電介質(zhì)（如壓電陶瓷等）的極化之中。北京華測HCJD壓電陶瓷高壓極化裝置廠家
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華測品牌HC6630頻譜阻抗分析儀損耗測試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：

瀏覽量：1548

華測品牌HC6630頻譜阻抗分析儀損耗測試儀器，能進(jìn)行通常評(píng)估元件和電路所需要的增益、相位、群時(shí)延、失真、寄生、CN和噪聲測量，能測量今日電子系統(tǒng)中越來越重要的增益和群時(shí)延平坦度，在一臺(tái)儀器上實(shí)現(xiàn)高網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀和阻抗分析儀的功能。
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